国产四通道12-bit示波器SDS5054X HD，支持4通道，具有 12-bit 垂直分辨率、优秀的本底噪声性能和垂直测量精度，能满足更多通道和更高精度的测量需求。SDS5000X HD 的带宽350 MHz、500 MHz或 1 GHz，采样率可达5 GSa/s，存储深度可达 2.5Gpts/通道；采用 SPO 技术，波形捕获率高达 650 000 帧/秒

一、概述

      国产四通道12-bit示波器SDS5054X HD，支持 8 通道，具有 12-bit 垂直分辨率、优秀的本底噪声性能和垂直测量精度，能满足更多通道和更高精度的测量需求。SDS5000X HD 的带宽350 MHz/ 500 MHz/ 1 GHz，采样率可达 5 GSa/s，存储深度可达 2.5Gpts/通道；采用 SPO 技术，波形捕获率高达 650 000 帧/秒，具有256 级辉度等级及色温显示；创新的数字触发系统，触发灵敏度高，触发抖动小，支持丰富的智能触发、串行总线触发和解码；支持历史 (History) 模式、分段采集 (Sequence)、模板测试、搜索、导航、波特图和三相电源分析等高级分析模式；具备丰富的测量和数学运算功能。SDS5000X HD 采用了 12.1 英寸电容式触摸屏，支持多种手势实现对波形和菜单的常用操作，结合前面板的多个一键操作按键，极大地优化了操作示波器的效率，提升了用户体验。

二、主要特性

1、带宽：350 MHz, 500 MHz, 1 GHz

2、垂直分辨率：12-bit

3、通道数：8/6/4+EXT

4、低本底噪声：在 1 GHz全带宽下低至140 μVrms

5、实时采样率： 5 GSa/s

6、存储深度： 2.5 Gpts

7、波形刷新率：650,000 wfm/s（Sequence模式）

三、国产四通道12-bit示波器SDS5054X HD设计特色

1、高分辨率示波器，满足更高精度的测试需求

      12-bit高分辨率ADC采样，更好地呈现波形细节；优秀的本底噪声，在1GHz全带宽下的底噪值仅为140 μVrms，让12-bit ADC充分发挥性能；直流增益精度±0.5%，满足更高精度的测试需求。

2、多路信号时序分析，一次完成电源轨测量

      现代电子系统中包含不同的芯片、模块等，不同电路模块的信号在初始化和工作时可能相互影响，通过上电时序测试，可确保各模块信号在正确的时间出现，避免信号冲突、干扰，保证系统正常运行。如在通信系统中，收发模块的上电时序不当，可能造成数据传输错误。随着技术的发展，电路的复杂度不断提高，对上电时序测试也提出了新的挑战。SDS5000X HD可一次捕获所有相关信号的上电过程，节省测量时间，提高工作效率，减少因多次测量引入的误差，对有 8 个以上电源轨的复杂电路，可一次完成测量。

3、三相电分析

      使用八通道示波器进行三相电分析，可以同时连接三相电的各相，对三相电压、电流信号进行同步测量，能实时准确获取三相电各相的波形和参数，直接观察和比较三相电信号的相位关系，确保三相电的相位平衡。借助快速傅里叶变换（FFT）功能，多通道示波器可对三相电压、电流信号进行谐波分析。选配三相电分析，可以测试三相电机的向量图，电能质量，进行效率分析等。

4、完整的宽禁带半导体解决方案

      八通道示波器和光隔离探头，补全了宽禁带半导体测试的所有拼图。SDS5000X HD的上升时间达到了ps级别，可以捕捉到碳化硅（SiC）、氮化镓（GaN）的快速变化的波形，分析开关过程中电压，电流的瞬态变化和开关特性。通过观察信号的形状、过冲、振铃等情况，分析信号的完整性，优化电路设计。

5、规格

五、其它产品

      SNA6000A系列矢量网络分析仪最高测量频率达50 GHz，并可扩展至110 GHz，端口数：2/4；和开关矩阵结合实现24端口，可满足当今高速通信和高频测试需求。SNA6000A不仅具有出色的射频性能，还集高频技术、精密设计与全面测试功能于一体，可提供全面而高效的测量支持。